金屬粉末粒徑分析儀是用物理的方法測(cè)試固體顆粒的大小和分布的一種儀器，其采用高速數(shù)字相關(guān)器和高性能光電倍增管作為核心器件，具有操作簡便、測(cè)試快捷、高分辨、高重復(fù)及測(cè)試準(zhǔn)確等特點(diǎn)，是納米顆粒粒度測(cè)試的產(chǎn)品。
分辨金屬粉末粒徑分析儀的優(yōu)劣主要看這幾點(diǎn)：
1、激光光源
一般選用2mW激光器，功率太小則散射光能量低，造成靈敏度低；另外，氣體光源波長短，穩(wěn)定性優(yōu)于固體光源。
2、檢測(cè)器
檢測(cè)器因?yàn)榧す庋苌涔猸h(huán)半徑越大，光強(qiáng)越弱，極易造成小粒子信/噪比降低而漏檢，所以對(duì)小粒子的分布檢測(cè)能體現(xiàn)儀器的好壞。檢測(cè)器的發(fā)展經(jīng)歷了圓形，半圓形和扇形幾個(gè)階段。
3、粒度測(cè)量范圍
粒度范圍寬，適合的應(yīng)用廣。不僅要看其儀器所報(bào)出的范圍，而是看超出主檢測(cè)器面積的小粒子散射如何檢測(cè)。途徑是全范圍直接檢測(cè)，這樣才能保證本底扣除的一致性。不同方法的混合測(cè)試，再用計(jì)算機(jī)擬合成一張圖譜，肯定帶來誤差。
4、穩(wěn)定性
儀器穩(wěn)定性包括光路的穩(wěn)定性和分散系統(tǒng)的穩(wěn)定性和周圍環(huán)境的影響。一般來講選用氣體激光器，使用光學(xué)平臺(tái)，有助于光路的穩(wěn)定。內(nèi)部發(fā)熱部件(如50瓦的鎢燈)將影響光路周圍環(huán)境。穩(wěn)定性指標(biāo)在廠家儀器說明中沒有，用戶只能憑對(duì)于儀器結(jié)構(gòu)的判斷和參觀或詢問其他長時(shí)間使用過的用戶來判斷。
5、是否使用*的米氏理論
因?yàn)槊资瞎馍⒗碚摲浅?fù)雜，數(shù)據(jù)處理量大，所以有些廠家忽略顆粒本身折光和吸收等光學(xué)性質(zhì)，采用近似的米氏理論，造成使用范圍受限制，漏檢幾率增大等問題。
6、準(zhǔn)確性和重復(fù)性指標(biāo)
準(zhǔn)確性和重復(fù)性指標(biāo)越高越好。采用NIST標(biāo)準(zhǔn)粒子檢測(cè)。
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